Podstawowa definicja stałego testera dielektrycznego

Zgodnie z wynikami badań elektrostatyki izolowany ładunek Q w próżni wytwarza wokół niego pole elektryczne, a siła pola elektrycznego jest stosowana, gdy kolejna ładunek testowy Q0 wchodzi na pole elektryczne. Wytrzymałość pola elektrycznego wytwarzana przez ładunek Q to:

Gdzie ε0 jest stałą dielektryczną w próżni; R jest odległością promieniową od ładunku punktowego Q. Ogólnie rzecz biorąc, siła pola elektrycznego jest wektorem. Siła pola elektrycznego doświadczana przez ładunek testowy Q0 w odległości R od ładunku Q to:

Zgodnie z właściwością reakcji siły na ładunek Q ma również wpływ siła pola elektrycznego wytwarzana przez ładunek testowy Q0, a wielkość siły jest równa i przeciwna. Zgodnie z równaniem (1) stała dielektryczna ε0 w próżni charakteryzuje wielkość wytrzymałości pola elektrycznego wytwarzanego przez izolowany ładunek Q na danej odległości r. Jeśli warunek próżni w równaniu (1) zostanie zastąpiony dielektryką, wytrzymałość pola elektrycznego wytwarzana przez ten sam izolowany ładunek Q będzie wyrażony jako

Gdzie ε jest stałą dielektryczną dielektryki. W praktycznych zastosowaniach stała dielektryczna ε0 w próżni jest zwykle wybierana jako odniesienie, a stosunek stałej dielektrycznej ε dielektryki do ε0 jest definiowany jako bezwymiarowa względna przenikliwość εr, jak w równaniu (4). Pokazywać:

Ponieważ próżnia jest idealnym modelem dielektrycznym (bez atomów, cząsteczek), pole elektryczne wytwarzane przez pierwotne ładunek Q jest zmniejszone w rzeczywistym dielektryce z powodu związanego efektu ładunku, co jest mało prawdopodobne w próżni. Dlatego względna stała dielektryczna dla faktycznego dielektryka zawsze spełnia większą lub równą 1.

Z równania (3) można zauważyć, że stała dielektryczna ε reprezentuje ograniczenie wielkości wytrzymałości pola elektrycznego generowanego przez ładunek Q w dielektrycznym (oprócz odległości jest to również jedyne ograniczenie). Oczywiście wnioskowanie to jest całkowicie akceptowalne w przypadku pola elektrostatycznego, ale wydaje się, że stosowanie tego wnioskowania jest nieco nieodpowiednie do naprzemiennego pola elektrycznego. Badania nad mikroskopowym mechanizmem reprezentacji i makroskopowego działania dielektryki w naprzemiennym polu elektrycznym osiągnęły niektóre wyniki, ale nadal wymaga dalszych badań. Jest to również jeden z ważnych kierunków badań i treści fizyki dielektrycznej i fizyki kwantowej.

Można potwierdzić, że właściwość charakteryzująca się stałą dielektryczną dielektryki wpływa również na naprzemienne pole elektryczne w przypadku naprzemiennego pola elektrycznego. Na przykład prędkość propagacji naprzemiennego pola elektrycznego w dielektryce zmniejszy się, częstotliwość będzie stała, długość fali będzie krótsza (teoria propagacji elektromagnetycznej), a stała dielektryczna będzie większa, a odpowiednia zmiana będzie większa.

Podstawowa definicja stałego testera dielektrycznego

Główne wskaźniki techniczne dielektrycznego testera:

2.1 TANδ i ε Wydajność:

2.1.1 Test TAN δ i ε Zmiany materiałów izolacyjnych stałych o częstotliwościach testowych od 10 kHz do 120 MHz.

2.1.2 Zakres pomiaru tanδ i ε:

Tan δ: 0,1 do 0,00005, ε: 1 do 50

2.1.3 Dokładność pomiaru tanδ i ε (1 MHz):

Tanδ: ± 5%± 0,00005, ε: ± 2%

Zakres częstotliwości roboczej: czterocyfrowy wyświetlacz 50 kHz ~ 50 MHz, oscylator kontrolowany napięciem

Q Zakres pomiaru wartości: 1 do 1000 trójcyfrowy wyświetlacz, ± 1Q Rozdzielczość

Regulowany zakres pojemności: 40 ~ 500pf ΔC ± 3pf

Błąd pomiaru pojemności: ± 1% ± 1pf

Q Wartość indukcyjności resztkowej: około 20 nh

Dielektryczne Contaży Tester:

◎ Innowacyjna automatyczna technologia retencji wartości Q umożliwia zmierzenie rozdzielczości Q do 0,1q, co powoduje rozdzielczość TAN δ wynoszącą 0,00005.

Test Test dla kąta straty dielektrycznej (tan δ) i stałej dielektrycznej (ε) stałego materiału izolacyjnego przy 10 kHz do 120 MHz.

◎ Resztkowa indukcyjność pętli strojenia wynosi nawet 8NH, co gwarantuje mniejszy błąd w (tanδ) i (ε) 100 MHz.

◎ Specjalne menu ekranu LCD Wyświetlacz multi-parametry: Q Wartość, częstotliwość testu, status strojenia itp.

◎ q Zakres wartości Automatyczna / ręczna kontrola zakresu.

◎ Synteza DPLL 1KHz ~ 60 MHz, sygnał testowy 50 kHz ~ 160 MHz. Niezależne wyjście źródła sygnału, więc ta jednostka jest kompozytowym źródłem sygnału.

◎ Urządzenie testowe spełnia wymagania National Standard GB/T 1409-2006, American Standard ASTM D150 i IEC60250.

Tester stałego dielektrycznego działa od 10 kHz do 120 MHz i jest w stanie przetestować stratę dielektryczną o wysokiej częstotliwości (tan δ) i stałą dielektryczną (ε) materiałów w częstotliwości roboczej.

Urządzenie testowe w tym instrumencie składa się z kondensatora płytowego i kondensatora liniowego mikrocylindrowego. Kondensator płyty jest zwykle używany do zacisku próbki do testowania, a miernik Q jest używany jako instrument wskazujący.

Styczna straty materiału izolacyjnego jest obliczana przez wzór poprzez umieszczenie zmierzonej próbki w kondensator płyty i nie zmieniając wartości Q próbki i odczytu grubości.

Podobnie odczyt pojemności kondensatora liniowego mikrokapaciora jest zmieniany, a stałą dielektryczną jest obliczana przez wzór.